利强万定一保村苏用薄膜干涉检查工件平来自整度( 二 )


由于这个劈尖的顶角很小,因此可认为平行光线垂直射向上面和下面 。
发生干涉的光线是在上表面反射的光和在上表面经折射后在下表面反射回的光线
由于顶角很小,折射几乎不改变方向,可认为光直线射下
于是光程差等于入射点处的劈尖厚度的两倍(高考不考虑半波损失,竞赛要考虑,但这会时得出的结论相反,就是该暗的的地方亮,该亮的地方暗,不改变条纹形状)
就是光程差δ=2d,δ为介质中半波长的偶数倍处为亮纹,奇数倍处为暗纹 。
可见,这里的干涉特点是:干涉条纹分布只与介质厚度有关,同一个厚度对应同一级条纹,因此称为等厚干涉 。
就是干涉条纹应该是介质厚度相等的点的轨迹,当平面平整时,厚度均匀变化,条纹为直线 。当下面被测面有一凹的话,条纹是等厚的点的轨迹,凹就是厚度增加,于是这里的厚度等于比此处远离劈棱处(厚度为0的地方)的地方的厚度,远离劈棱的地方的轨迹偏到这里来,总体情况就是:条纹向劈棱方向偏 。
若有一凸也就知道了吧,向远离劈棱的方向偏 。
重点抓住:等厚干涉,同一个厚度对应同一级条纹 。

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