应广大学员要求, 详细了解数字ASIC设计培训的方案和计划,以及数字ic设计的基础知识和设计流程, 现把教学大纲公布:
1) 逻辑设计理论/ Verilog/ VHDL语言
2) 数字电路验证（verification平台建立/功能测试
3) 设计综合（synthesys）与扫描链测试(DFT)
4) 静态时序分（STA）
5) 数字电路前端设计实战（有两个实际芯片项目）
我们针对外地学员和在职学员开设网络培训 ， 无需固定上课时间 。 理论学习之外 ， 以实际项目让学员接触设计 ， 为此提供完整的免费的EDA软件安装服务 ， 并有实际芯片案例,导师指导全程设计 。 导师平时以电话和电子邮件指导 ， 和导师见面当面指导,具体时间一般是在周末, 也可以集中两周的时间, 学员可以根据自己的时间自行安排 目前数字前端课程全部完成的时间约为三个月 。
数字设计的理论部分具体内容如下:
一 逻辑设计理论/ Verilog/ VHDL语言
1 ) HDL 语言简介
Verilog 语言的产生发展 优势和特点
编译仿真的原理
Verilog/VHDL 语言各自现状及应用
2）verilog语法 （或者 VHDL语法 ）
模块 时延的概念与应用
运算符及优先级
赋值的类型与适用
条件语句 循环语句
Initial always task function 说明语句及使用
行为级建模和可综合设计
3）数字系统设计
数据流的设计/控制 时序设计
状态机设计
二 verification平台建立/功能测试
1） 验证环节在ic设计流程中的位置 ，
2) RTL/网表/FPGA/testchip 的验证阶段
3) 验证计划
4) verification 的方法学 种类和适用设计
5) RTL verification testbench setup 激励文件生成
6) RTL语言和高级语言的混合验证平台建立
7) 数模混合设计验证方法学
三 设计综合（synthesys）与扫描链测试(DFT)
【数字IC设计流程 数字ic设计基础知识 前端设计培训大纲】 1）综合
综合的概念
综合库与工具介绍
综合的过程
约束／工作环境的设立
反标文件产生
优化设计
2）DFT
DFT 概念
scan chain/ BSD/BIST 概念与设计方法
DFT 的测试原理/测试方法( D算法 向量产生与仿真)
BSD 基本单元和JTAG测试
四 静态时序分（STA）
1)静态时序分析概念
2)数据延迟 setup /hold 的分析
3)时钟结构 跨时钟／多时钟条件
4)端口约束／工作环境设定
5)工作条件／工艺条件 对延迟的影响
6)关键路径与设计优化
7)报告分析
五 实践项目部分
项目一: RTL coding
中断管理状态机设计
验证平台设计和使用
测试向量设计
验证工具的使用
debug 调试
项目二: 基础通信协议
方案设计
RTL coding
通信算法的运用
CPU控制
FIFO设计与实现
验证平台设计和使用
测试向量设计
验证工具的使用
debug 调试
电路综合和DFT
静态时序分析
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